崗位職責(zé):
1. 負(fù)責(zé)內(nèi)存(DRAM)的系統(tǒng)測試程序或ATE測試程序開發(fā)與新平臺導(dǎo)入,測試流程優(yōu)化等。;
2. 與上下游合作,開發(fā)并且持續(xù)優(yōu)化測試程序框架。;
3. 產(chǎn)品失效分析,提升系統(tǒng)級別內(nèi)存測試覆蓋率加強(qiáng)和測試時間減少
4. 與產(chǎn)品部門合作提升產(chǎn)品良率,能夠設(shè)計工程實驗,分析以及撰寫報告;
5. 負(fù)責(zé)測試異常情況的分析、處理;生產(chǎn)線異常事件處理與改善項目追蹤。
任職要求:
1. 本科及以上學(xué)歷,電子,半導(dǎo)體材料,通信,測控以及自動化相關(guān)專業(yè);微電子、電子信息、電子工程優(yōu)先;
2. 具有較強(qiáng)的邏輯思維和獨(dú)立解決問題能力;
3. 具有良好人際溝通能力、主動性及團(tuán)隊合作精神;
4.熟悉UEFI、Linux和Android內(nèi)存測試程序的開發(fā);
5. 熟悉x86/ARM架構(gòu),有內(nèi)核、固件或BIOS的相關(guān)開發(fā)經(jīng)驗優(yōu)先;
6. 具備內(nèi)存(DRAM)測試經(jīng)驗優(yōu)先;
7.熟悉Advantest/Teradyne ATE設(shè)備尤先,熟悉芯片測試原理及DFT方案設(shè)計驗證優(yōu)先。