職位描述:
1. 根據(jù)需求,完成芯片的DFT設(shè)計(jì);
2. 負(fù)責(zé)SCAN/MBIST/Boundary SCAN/Hard Macro Test等DFT功能實(shí)現(xiàn);
3. 負(fù)責(zé)DFT的時(shí)序約束優(yōu)化收斂;
4. 負(fù)責(zé)DFT測(cè)試向量的生成/驗(yàn)證,覆蓋率與測(cè)試時(shí)間的優(yōu)化;
5. 負(fù)責(zé)測(cè)試向量調(diào)試與良率提升。
職位要求:
1. 計(jì)算機(jī)/微電子/電路與系統(tǒng)等芯片設(shè)計(jì)相關(guān)專業(yè), 本科5年/碩士3年相關(guān)工作經(jīng)驗(yàn);
2. 具有SOC DFT設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn),熟悉以下至少一種DFT設(shè)計(jì),SCAN/MBIST/Boundary SCAN/Hard Macro Test;
3. 熟悉Synopsys/Mentor 相關(guān)工具的實(shí)現(xiàn)/驗(yàn)證流程及使用;
4. 熟悉PCIE/DDR測(cè)試者,熟悉時(shí)序優(yōu)化者優(yōu)先;
5. 具有大型SOC或CPU/AI芯片經(jīng)驗(yàn)者優(yōu)先;
6. 具有芯片ATE 測(cè)試向量調(diào)試/良率提升經(jīng)驗(yàn)者優(yōu)先;
7. 熟悉腳本運(yùn)用者優(yōu)先。